پاورپوینت پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک

بخشی از پاورپوینت

اسلاید 1 :

پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک

اسلاید 2 :

کاربردهای پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک

پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک (Small Angle X-ray Scattering - SAXS) روشی برای ارزیابی توزیع اندازه ذرات یا حفرههای نانومتری پخش شده درنمونه مورد بررسی است.
با استفاده از این تکنیک میتوان توزیع اندازه ذرات یا توزیع اندازه حفرههای مواد به صورتهای مختلف مانند بیشکل (Amrphous materials)؛ بلوری و ماکرومولکولهایی مانند مولکولهای پلیمری را برای افت و خیزهای چگالی الکترونی که در نمونه روی میدهد، محاسبه کرد.

اسلاید 3 :

با استفاده از این تکنیک، محاسبه توزیع اندازه ذرات یا توزیع اندازه حفرههای مواد، با تجزیه و تحلیل شدت پرتو ایکس پراکنده شده در محدوده زاویه ای 0/1 تا حدود 5 درجه امر امکان پذیر است.
ناهمگنیهای موضعی در مواد بی شکل؛ ذرات کلوئیدی و ذرات کلوخه شده با استفاده از این تکنیک قابل شناسایی است.
با استفاده از SAXS و مدلهای ساختاری میتوان نظم بلند برد و فاصله میان ذرات را در مجموعهای از مولکولهای پلیمری تعیین کرد.
این روش، روشی غیر مخرب است که با استفاده از آن میتوان نمونههایی را که در برابر نور مرئی شفاف نیستند، مطالعه کرد.
SAXS میتواند ذرات یا حفره هایی با اندازه 1 تا 100 نانومتر را شناسایی کند، هر چند برای ذرات با اندازه های خارج از این بازه نیز قابل استفاده است.
با استفاده از آن، اندازه ذرات با اندازه های 1 تا 10 نانومتر را میتوان با دقت بیشتری تعیین کرد.
با استفاده از SAXS میتوان نسبت سطح به حجم نمونه را نیز تعیین کرد.
کاربردهای پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک

اسلاید 4 :

مقایسه روش های مختلف ارزیابی توزیع اندازه ذرات
روش
میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM)
پراکندگی دینامیکی نور
(DLS)
مزایا
تصویر واقعی از شکل ذرات را نشان میدهد.
محدوده وسیعی از اندازه ذرات از 1 نانومتر تا 6 میکرومتر قابل ارزیابی است.
معایب
تخمین متوسط اندازه ذرات به دلیل تعداد زیاد ذرات دشوار است و برای ذرات کوچک تر از 2 نانومتر تخمین توزیع ذرات نیاز به پردازشگرهای ویژهای دارد.
دمای اندازهگیری و غلظت بر نتایج اثر میگذارد.

اسلاید 5 :

مقایسه روش های مختلف ارزیابی توزیع اندازه ذرات
روش
Laser Scattering Particle Size Analysis
Differential Mobility Analysis
مزایا
محدوده وسیعی از اندازه ذرات از 15 نانومتر تا 500 میکرومتر قابل ارزیابی است.
نه تنها توزیع اندازه ذرات که دسته بندی اندازه ذرات نیز قابل انجام است.
معایب
ذرات بایستی در حلال پخش شده باشند.
ذراتی که در ماتریکس قرار داشته باشند قابل شناسایی نیستند.

اسلاید 6 :

مقایسه روش های مختلف ارزیابی توزیع اندازه ذرات
روش
Time-of-Flight Second Ion Mass Spectroscopy
SAXS
مزایا
تعیین تعداد اتم های تشکیل دهنده یک ذره
روشی غیرمخرب و هر صورتی از نمونه قابل بررسی است.
معایب
تنها ذرات تا چند نانومتر را می توان بررسی کرد.
در محاسبات بایستی شکل ذرات پراکنده کننده را در نظر گرفت.

اسلاید 7 :

نمونهای را در نظر میگیریم که دارای افت و خیزهای چگالی از مرتبه نانومتر در داخل زمینهای است که معمولاً ماتریس میزبان نام دارد.
پرتو ایکس فرودی بعد از برخورد به ذرات در زاویه پراکندگی کوچکِ 2 که نزدیک به صفر است، پراکنده میشود.
پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک
در چنین نمونهای، اندازه یا توزیع اندازه، شکل ذرات یا طول همبستگی بین ذرات با استفاده از SAXS قابل اندازهگیری است.

اسلاید 8 :

پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک
پهنای پرتو مستقیم فرودی؛ موقعیت کمترین 2 در دسترس را تعیین میکند؛ بنابراین پرتو ایکس فرودی، حداقل در راستای عمودی، بایستی موازی شده باشد.
برای آنالیز، بهتر است تا جایی که امکان دارد سیگنال ناشی از ماتریکس حذف شود. در غیر اینصورت، برای آنالیز بایستی دادههای حاصل از نمونه مرجع که فاقد ذرات است نیز اندازهگیری شود.
تنظیم ضخامت نمونهها و غلظت ذرات برای داشتن داده با کیفیت بالاتر نیز از موارد ضروری است.

اسلاید 9 :

نحوه اندازه گیری اندازه ذرات در روش SAXS
مانند آنالیز بلوری در XRD؛ در SAXS نیز اندازهگیریها در راستایی که هم راستا با بردار پراکندگی است، انجام میشود.
اگر در توزیع اندازه ذرات، ناهمسانگردی داشته باشیم، نمونه بایستی بهگونهای قرار داده شود که هم جهت با بردار پراکندگی باشد.
برای تعیین توزیع اندازه ذرات، میتوان پروفایلی را که در آنالیز مشاهده میشود با پروفایلهایی که بر اساس اندازه و شکل ذرات محاسبه شدهاند، برازش (Fitting) کرد.

اسلاید 10 :

چنانچه نمونهای که برای آنالیز با استفاده از SAXS بهکارگرفته میشود، به صورت لایه نازک روی زیرلایه باشد و تعداد پراکنده کنندهها کافی نباشد یا نتوان با استفاده از چیدمان عبوری اندازهگیری را انجام داد، از چیدمان بازتاب استفاده میشود.
در چیدمان بازتاب، برای بررسی سطح ساختارها و با توجه به ضخامت اندک نمونهها، بایستی سیگنال ضعیف دریافتی به طور موثر جمعآوری شود.
از طرفی مساحتی که تحت تابش قرار میگیرد، متناسب با 1/sin است که  زاویه پرتو ایکس فرودی است.
بنابراین پرتو ایکس بایستی به طور خراشان (یعنی تقریباً موازی با سطح) و نزدیک به زاویهای که بازتاب کلی رخ میدهد، به سطح نمونه بتابد تا سهم پراکندگی افزایش یابد.
در چیدمان خراشان، سهم بزرگی از پرتو ایکس به وسیله زیرلایه جذب نمیشود.

اسلاید 11 :

در چیدمان بازتاب، پرتو ایکس فرودی تحت تأثیر بازتابهای چندگانه و پدیده شکست در سطح لایه و فصل مشترک است که تصحیح شدت اندازه گرفته شده با استفاده از تقریب موج بورن ناهموار شده (Distorted Wave Born Approximation (DWBA)) انجام میشود.
به این روش در آنالیز SAXS؛ روش پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک و فرودی خراشان (Grazing-Incident Small-Angle X-ray Scattering GI-SAXS) گفته میشود.
برای انجام آنالیز GI-SAXS دانستن مقادیر دقیق پارامترهای فیزیکی مانند ضخامت لایه، چگالی، زبری سطح و زبری فصل مشترک نیاز است.
بنابراین انجام آنالیزی مانند X-ray Reflectivity (XRR) قبل از انجام آنالیز GI-SAXS ضروری میباشد.

اسلاید 12 :

در چیدمان خارج از صفحه در آنالیز GI-SAXS، زاویه فرودی با زاویه خروجی برابر است و بازتاب آینهای رخ میدهد.
این چیدمان مشابه چیدمان روش X-ray Reflectivity (XRR) است؛ اما شدت سیگنال آنالیز SAXS در مقایسه با XRR معمولاً ضعیف است.
در چیدمان بازتاب آینهای سیگنال SAXS در مقایسه با سایر سیگنالهای تولید شده ناچیز است که حذف سیگنالهای مزاحم حاصل از بازتاب آینهای با ایجاد شرایطی که تساوی زاویه فرودی و خروجی در آن از بین رود؛ انجام میشود.

چیدمان خارج از صفحه

اسلاید 13 :

در چیدمان داخل صفحهای، از آن جایی که آشکارساز در جهت عمود بر بازتاب آینهای قرار میگیرد؛ بخش قابل ملاحظه ای از سیگنال بازتاب آینهای با سیگنال SAXS هم پوشانی ندارد.
در عوض اثر پرتو ایکس فرود آمده بر سطح نمونه مشاهده میشود.
در چیدمان داخل صفحهای، علاوه بر موازی شدن پرتو ایکس در راستای عمود بر سطح، باید در راستای سطح نیز پرتو ایکس موازی شده داشته باشیم که به این منظور از آینههای خاص استفاده میشود.

چیدمان داخل صفحهای

اسلاید 14 :

توزیع اندازه ذرات نیکل با استفاده از آنالیز GI-SAXS

اسلاید 15 :

توزیع اندازه ذرات نیکل با استفاده از آنالیز GI-SAXS
منحنی خط چین حاصل از تحلیل GI-SAXS با چیدمان داخل صفحهای است که اندازه در راستای سطح نمونه را نشان میدهد.
منحنی دیگر، حاصل تحلیل دادههای به دست آمده از چیدمان خارج از صفحهای است که اندازه را در راستای عمود بر سطح نمونه را نشان میدهد.
بنابراین، نانوذرات دانه ای نیکل، اندازه و توزیع اندازه همسانگرد با قطر متوسط 5 نانومتر دارند.

اسلاید 16 :

نمونه هایی که ساختارهای روی سطح آنها به صورت خطوط یا فضاهایی است که به طور متناوب تکرار میشوند و در ادوات الکترونیکی، نوری یا مغناطیسی به کار گرفته میشوند را میتوان با استفاده GI-SAXS مطالعه کرد؛ تا پهنای خطوط، فاصله بین خطوط؛ ارتفاع و عمق ساختارهای متناوب ایجاد شده را به طور دقیق اندازهگیری شوند.
این نوع مطالعه با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) نیز امکان پذیر است، اما با استفاده از GI-SAXS میتوان متوسط اندازه و یا توزیع اندازه را برای محدوده وسیعی از سطح نمونه به دست آورد.
از آنجایی که پرتو ایکس در کنار حفره های باز؛ حفره های بسته را نیز ارزیابی میکند؛ با استفاده از SAXS میتوان تخلخل مواد را تعیین کرد.
اگر SAXS در آنالیز مواد نانومتخلخل به کار گرفته شود، دقت کمی خواهد داشت.

اسلاید 17 :

اجزای تشکیل دهنده سیستم پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک
دستگاه SAXS شامل منبع تولید پرتو ایکس، تکفام کنندهها و آشکارساز است.
در SAXS پرتو ایکس تکفام شده به نمونه میتابد. در حالی که بخشی از پرتو بدون برهمکنش با نمونه از آن میگذرد و خارج میشود، بخشی از پرتو ایکس پراکنده میگردد.
پرتوهای پراکنده شده در موقعیت آشکارساز، طرح پراکنده شدهای از پرتو ایکس را تشکیل میدهند.
آشکارساز دو بعدی پرتو ایکس معمولاً در پشت نمونه در راستای عمود بر راستای پرتو ایکس اولیه که بر نمونه میتابد، قرار گرفته است.

اسلاید 18 :

مساله اساسی در SAXS، جداسازی شدت ضعیف پرتو ایکس پراکنده شده از پرتو اصلی است که شدت قوی دارد.
هر چه زاویه کوچکتر باشد، این جداسازی دشوارتر است؛ زیرا باید مانع از رسیدن پرتوهای پراکنده نشدهای که از نمونه عبور میکنند نیز شود، بدون این که پرتوهای پراکنده شده مجاور آنها حذف شوند.
از طرفی واگرایی پرتو ایکس در بیشترِ منابع پرتو ایکس رخ میدهد که با متمرکز کردن پرتو، این مشکل بر طرف میشود؛ اما در مورد پرتو ایکس این متمرکز کردن به آسانی قابل انجام نیست.
اجزای تشکیل دهنده سیستم پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک

اسلاید 19 :

موازی سازی در SAXS دارای اهمیت فراوانی است.
دو نوع موازی کننده وجود دارد:
اجزای تشکیل دهنده سیستم پراکندگی پرتو ایکس با زاویه کوچک
این موازی کننده، شکل پرتو ایکس را به صورت نقطهای روی نمونه میتاباند که پرتوهای پراکنده شده به طور متقارن و مخروطی حول پرتو ایکس اولیه توزیع میشوند و در صفحه آشکارساز به صورت دایره حول پرتو اولیه ظاهر میگردند.
موازی کننده نقطهای
پرتو ایکس فرودی را در یک بعد محدود میکند، که پروفایل پرتو طویل اما به صورت خطی باریک است. حجمی از نمونه که در این حالت تحت تابش قرار میگیرد بسیار بزرگتر از حالتی است که موازی کننده نقطهای استفاده شود، بنابراین شدت پراکنده شده بیشتر است که سبب میشود زمان اندازهگیری در صورتی که موازی کننده خطی استفاده شود، کوتاهتر از حالتی باشد که موازی کننده نقطهای به کار گرفته میشود.
موازی کننده خطی

اسلاید 20 :

اصول اندازه گیری توزیع ذرات
هنگامی که چگالی الکترونی ذرات؛ متفاوت از چگالی الکترونی محیط در بردارنده آنها باشد، پدیده پراکندگی رخ میدهد.
پروفایل پراکندگی، I(q)، برابر با مربع قدرمطلق تبدیل فوریه افت و خیزهای چگالی الکترونی، F(q)، است:
برای ذرات کروی با قطر D و تفاوت چگالی الکترونی با محیط دربردارنده آن و بردار پراکندگی q داریم:
 زاویه پراکندگی و بردار موج پرتو ایکس است.